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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

優(yōu)質(zhì)供應chroma19055-C耐壓測試分析儀

產(chǎn)品型號:

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

所在地:深圳市

訪問量:809

更新時間:2024-10-09

產(chǎn)品簡介:

優(yōu)質(zhì)供應chroma19055-C耐壓測試分析儀

主要特色:

500VA 輸出
Floating 輸出設(shè)計,符合EN50191要求
Corona 電暈放電偵測(19055-C)
Flashover 電氣閃絡偵測
BDV崩潰電壓分析
專利 HFCC高頻接觸偵測
專利 OSC開短路偵測
GFI人體保護電路
標準RS232&HANDLER介面

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域化工,電子

優(yōu)質(zhì)供應chroma19055-C耐壓測試分析儀

主要特色:

  • 500VA 輸出
  • Floating 輸出設(shè)計,符合EN50191要求
  • Corona 電暈放電偵測(19055-C)
  • Flashover 電氣閃絡偵測
  • BDV崩潰電壓分析
  • 專利 HFCC高頻接觸偵測
  • 專利 OSC開短路偵測
  • GFI人體保護電路
  • 標準RS232&HANDLER介面
  • 可選購GPIB介面
  • 不良時面板鎖定功能
  • 可程式電壓輸出及測試限制值
  • 支援 A190301 高壓掃描治具

優(yōu)質(zhì)供應chroma19055-C耐壓測試分析儀

功能

  • 耐壓測試 
    - 交流 5kV/100mA 
    - 直流 6kV/25mA
  • 絕緣電阻測試 
    - 5kVmax 
    - 1MΩ~50GΩ

Chroma 19055 耐壓分析儀為針對耐壓測試與分析所設(shè)計的設(shè)備。其具備500VA大功率,最大輸出交流5kV/100mA,符合大功率耐壓測試需求,以及符合EN50191的設(shè)備要求(詳細資訊請參考應用文件)。

19055-C系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測試外,加入新研發(fā)的電暈放電偵測功能 (Corona Discharge Detection, CDD),可經(jīng)由崩潰電壓分析 (Breakdown Voltage Analysis)分別檢出 :
- 電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage, CSV)
- 電氣閃絡啟始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)
- 絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV)

對於測試時的接觸檢查議題,除原有專利設(shè)計OSC開短路偵測 (Open Short Check)外,新增高頻接觸檢查 (High Frequency Contact Check, HFCC) ,高壓輸出前進行接觸檢查,提升測試可靠度與效率。

為體貼使用者,Chroma 19055置入大型LCD顯示屏幕,方便操作與判斷。加入GFI 人體保護電路以及Floating安全輸出設(shè)計,保護操作人員的安全,讓您在操作時無後顧之憂。

量測技術(shù)

耐壓測試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(FLASHOVER) /電暈放電偵測技術(shù)(CORONA)
何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標準敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur",意指在耐壓測試中,不得有電氣閃絡或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件最重視的議題。由於放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性,所以放電偵測不僅是安全議題,更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來分類,放電可分為三種 : 電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge) 。

電暈放電(Corona Discharge): 當二電極間承受較高電壓時,電場強度相對較大,當此作用大於氣體之電離位能(Ionization Potential) ,於材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象,此時會有可見光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長期的電暈放電與溫升可能會造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change),進而導致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ,使得絕緣耐受程度下降,最終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由於電暈放電會產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電,是可以用高頻電量量測的方式偵測。

 

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